| 中文名称 | 聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM） |
|---|---|
| 英文名称 | ZEISSCrossbeam540；HeliosG4PFIBHXe；Helios600i |
| 说明 | 【价格】具体咨询 |
| 特性 | 检测服务详情请咨询在线客服。 |
| 用途 | TEM 制样、SEM 剖面分析、三维重构 |
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